由于XRM技術(shù)是一種高質(zhì)、高效的無損檢測(cè)技術(shù)，又有無需對(duì)樣品進(jìn)行復(fù)雜預(yù)處理、操作簡(jiǎn)便快捷等優(yōu)點(diǎn)，因此其在食品研究領(lǐng)域具有廣闊的應(yīng)用前景。目前，XRM技術(shù)在食品的應(yīng)用研究主要集中在對(duì)食品微觀結(jié)構(gòu)分析，檢測(cè)食品內(nèi)部缺陷以及新產(chǎn)品配方評(píng)估等方面，而隨著技術(shù)的發(fā)展和需求的不斷深入，XRM技術(shù)還可以用于研究動(dòng)態(tài)變化過程中視頻微觀結(jié)構(gòu)的變化，為優(yōu)化食品工藝、配方等過程提供理論依據(jù)。

實(shí)例一

不同品牌薯片內(nèi)部組分分布及含量對(duì)比，Bruker Skyscan 1275, 27um

切片圖數(shù)據(jù)，不同灰度值表征不同的組分

兩組樣品內(nèi)不同組分的三維分布表征

定量分析，兩組樣品中不同組分體積占比對(duì)比

實(shí)例二

榛果巧克力內(nèi)部多層結(jié)構(gòu)及不同組分分布表征，Bruker Skyscan1275,29um.

榛果巧克力內(nèi)部結(jié)構(gòu)正交三視圖

樣品內(nèi)部多層結(jié)構(gòu)及不同組分壁厚分布三維表征

實(shí)例三

烘焙食品（面包）內(nèi)部網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)評(píng)價(jià)，Skyscan1272，5um，面包等烘焙食品的內(nèi)部是由高度連通的氣孔組成的開孔泡沫結(jié)構(gòu)。其質(zhì)地、彈性和口感在很大程度上取決于這個(gè)孔隙網(wǎng)絡(luò)的特征。

MIP模式會(huì)將保留樣品內(nèi)對(duì)X射線衰減能力強(qiáng)的組分，即密度的部分

切片圖數(shù)據(jù)（左圖） MIP（密度投影）模式（右圖）

二值化，通過閾值分割將樣品實(shí)體與孔隙區(qū)分開

8bit 灰度值直方圖（左圖） 面包內(nèi)部結(jié)構(gòu)的二值化圖像，實(shí)體（白），孔隙（黑）（右圖）

定量分析，面包內(nèi)的壁厚分布和孔徑分布